Laporan Analisis Material Tms [PDF]

Citation preview

LAPORAN ANALISIS MATERIAL TOPOGRAPHY MEASUREMENT SYSTEM



Oleh: Nama



: DINAR INSIANA MIRANTI PUTRI



NIM



: 175090307111020



Kelompok



:9



Tanggal



: 8 NOVEMBER 2019



Asisten



: MAHARDIKA AUDITIA HANIF



LABORATIORIUM FISIKA MATERIAL JURUSAN FISIKA FAKULTAS MATEMATIKA DAN ILMU PENGETAHUAN ALAM UNIVERSITAS BRAWIJAYA 2019



Bab I Pendahuluan



1.1 Tujuan Tujuan dari praktikum tentang Topography Measurement System (TMS) yaitu untuk diketahuinya nilai koefisien kekasaran (rougness coefficient) dari permukaan material kaca yang dilapisi ZnPc yang dibuat dari metode evaporasi dengan waktu 2menit dan 5menit.



Serta untuk mengetahui prinsip, fungsi dan cara kerja dari



Topography Measurement System.



1.2 Dasar Teori Teknik permukaan dengan tekstur khusus dan fungsionalitas spesifik menjadi praktik umum untuk menambahkan nilai pada barang-barang manufaktur. Struktur dalam dimensi mikro dan nano membuat perbedaan. Dengan alat topography, dapat menganalisis kualitas struktur permukaan ini dengan presisi tinggi, di laboratorium dan lingkungan produksi juga. Sistem pengukuran confocal memperoleh topografi, kekasaran, partikel dan volume, bebas dari material dan karakteristik permukaan seperti refleksi dan warna .



Saat menentukan topografi fungsional permukaan, interferometer cahaya putih seperti TopMap Sistem secara drastis mengurangi pengukuran waktu dibandingkan dengan sistem taktil, yang hanya menangkap satu baris pada satu waktu. Dan dengan permukaan terstruktur, mencapai reproduktifitas dan pengulangan yang tinggi. Ini nonkontak dan dengan demikian metode pengukuran non-destruktif akan menjadi keuntungan utama Anda saat mengukur pada permukaan yang lembut atau sensitif, sampel dengan geometri kompleks atau benda kerja dengan permukaan yang karakteristik bervariasi..



Gambar 1.



Dalam proses manufaktur presisi tinggi, misalnya milling, turning, grinding, seringkali perlu untuk mengukur topografi komponen untuk memantau keakuratan proses pembuatannya. Mikroskop confocal, mikroskop cahaya putih dan triangulasi laser adalah contoh untuk teknik pengukuran yang sesuai untuk memantau ketepatan proses manufaktur di kisaran