Fluoresensi Sinar [PDF]

Citation preview

Fluoresensi Sinar-X Fluorescense/ XRF)



(X-Ray



Spektrofotometer fluoresensi sinar-X (XRF) merupakan metode untuk menganalisis unsur dalam suatu padatan, dimana sampel diradiasikan dengan sinar-X sehingga atom-atom berfluoresensi. Sinar X flouresensi yang diemisikan oleh masing-masing unsur dalam sampel akan terdeteksi dan konsentrasinya akan ditentukan dari intensitas sinar-X yang diemisikan.



Analisis XRF berjalan cepat, tidak destruktif, dan merupakan metode penentuan analisis secara kualitatif dan kuantitatif terhadap unsur baik dalam bentuk padatan maupun dalam bentuk larutan. Bersama dengan instrumen konvensional, berdasarkan pada pengukuran panjang gelombang dan intensitas emisi sinar-X oleh sampel, jika tereksitasi oleh sinar dari tabung sinar-X primer.



Gambar 2.12 Prinsip kerja fluoresensi sinar-X



Untuk analisis kualitatif, spektrometer menggunakan model scaning dengan cara memutar o



o



jangkauan 2q secara tertentu, biasanya 10 sampai 145 . Sinar-X mencapai detektor, kemudian sinar diperkuat dan ditampilkan pada pencatat sebagai puncak-puncak yang berhubungan. Analisis kuantitatif untuk menentukan seberapa banyak partikel unsur yang terdapat dalam sampel. Ini berhubungan dengan intensitas dari setiap unsur. Untuk pekerjaan kuantitatif, spektrometer yang digunakan adalah model stasioner. Dalam hal ini, kristal diletakkan pada



sudut yang tepat untuk merefleksikan satu karakteristik unsur, kemudian detektor secara otomatis mengubah posisinya. Detektor dapat disesuaikan dengan pengaturan sudut dan mengulanginya untuk penentuan unsur lain. Intensitas aktual ditampilkan masing-masing dalam jumlah hitungan per waktu (misalnya hitungan per sepuluh detik), atau waktu akumulasi ditetapkan lebih dahulu jumlah perhitungan, misal 10.000. Nilai intensitas digunakan untuk menentukan konsentrasi unsur dalam sampel (Whiston dan Prichard, 1987).



PRINSIP FLUORESENSI X-Ray Fluorescence Analysis (Analisa XRF) Teknik fluoresensi sinar-x (XRF) merupakan suatu teknik analisis yang dapat menganalisa unsur-unsur yang membangun suatu material. Teknik ini juga dapat digunakan untuk menentukan konsentrasi unsur berdasarkan pada panjang gelombang dan jumlah sinar-x yang dipancarkan kembali setelah suatu material ditembaki sinar-x berenergi tinggi.



Fitur XRF Kelebihan 1. Akurasi yang relative tinggi 2. Dapat menentukan unsur dalam material tanpa adanya standar(bandingkan dg. AAS) 3. Dapat menentukan kandungan mineral dalam bahan biologis maupun dalam tubuh secara langsung. Kelemahan 1. Tidak dapat mengetahui senyawa apa yang dibentukolehunsur-unsuryang terkandung dalam material yang akan kita teliti. 2. Tidak dapat menentukan struktur dari atom yang membentuk material itu.



Prinsip Kerja 1. Menembakkan radiasi foton elektromagnetik ke material yang diteliti. 2. Radiasi elektromagnetik yang dipancarkan akan berinteraksi dengan elektron yang berada dikulit K suatu unsur. 3. Elektron yang berada dikulit K akan memiliki energi kinetik yang cukup untuk melepaskan diri dari ikatan inti, sehingga elektron itu akan terpental keluar.



Prinsip kera XRF 1. Pada teknik XRF, Menggunakan sinar-X dari tabung pembangkit sinar-X untuk mengeluarkan electron dari kulit bagian dalam untuk menghasilkan sinar-X baru dari sample yang di analisis. 2. Untuk setiap atom didalam sample,intensitas dari sinar-X karakteristik tersebut sebanding dengan jumlah (konsentrasi) atom didalam sample. 3. Intensitas sinarX karakteristik dari setiap unsur, dibandingkan dengan suatu standar yang diketahui konsentrasinya, sehingga konsentrasi unsur dalam sample bisa ditentukan Instrumen XRF Terdiri dari: 1. Sumber cahaya a.



Tabung Sinar X



b.



End W indow



c.



Side W indow



d.



Radioisotop 2. Optik a. Filter 3. Detektor a. Si(L i) b. P N Diode c. Silicon Drift Detectors d. Proportional Counters e. Scintillation Detect